2020-07-29 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A 金属板の測定ができない 金属は，0.5〜1ｍｍ程度であれば測定は容易です．大きな板の一部を測定することも可能です．測定が得うまく行かないのは，以下の二点です． １．絶縁膜がついていないか，破れて導通している．症状として，データが取れなくなりま […]
2020-07-22 / 最終更新日時 : 2020-07-22 hashimoto Q&A デフォルトベースラインの変更について 出荷時は広い範囲のベースラインを取って，デフォルトにセーブしてあります．デフォルトは，本体ROMに記憶させたもので，電源を投入すると自動的に指定されます．ベースラインは測定周波数帯に応じて，または電極部の経時変化を考慮し […]
2020-05-04 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A マニュアル測定時の条件設定について マニュアル測定は，まずベースライン測定に必須です．ベースラインの周波数帯は，目的の試料の予想周波数帯を含むことが絶対です．その上で，たとえば４Ｈｚから６２５Ｈｚならば両者の平方根２と２５なので，２３divとすれば，周波数 […]
2019-11-27 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A 界面の評価についてー接触抵抗の疑問に答えます サンプルとセンサー等の「接触抵抗が測定データに影響しないか」という問いがよく寄せられます．サンドペーパーのようなものを除いて，通常の平板試料ではほとんどありません．ただし，金属，無機材料のような硬い試料ではわずかなソリ […]
2019-06-22 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A シリコンウエハ上の薄膜は測定できる？ 問い合わせの中で，上位に来るのがこの質問です．500ミクロンのウエハ上に形成した1ミクロン以下のスパッタ膜・塗布膜などの測定です． シリコンは導体なので，絶縁膜の使用は不可避ですが，これが数ミクロンのPETフィルムなの […]
2019-06-03 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A 振幅は何を意味していますか？ Ｍ１またはＭ３型ＴＷＡ法は，基本的に位相データから熱拡散率を算定し，振幅データは使用していません．振幅もまたの周波数によって変化し熱拡散率を算定することもできます．ただし，振幅（以下ａｍｐ）は入力電圧の変動等外乱に敏感 […]
2019-05-29 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A 電子材料を実際の使用温度で測れますか？ アイフェイズ装置群の主要目的に電子材料の伝熱測定があります．接着材，放熱材，銀ペースト，銅箔，基板材料，ポリイミド，PEEK,PPS，SiC，シリコンウエハなど多岐にわたります．多くは室温での比較評価になりますが，実装 […]
2019-05-18 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A データの正しさの判断は？ もっとも関心のあるとこですが，もっとも難しいところです．位相型の温度波分析法では，位相すなわち時間を測定していますの，比較試料がいらないという特徴があります．したがって，条件さえ合えば，どんな試料でも測定できます．ただ […]
2019-05-09 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A 電極寿命について アイフェイズの基本は，温度計測であり温度センサーです．装置のタイプによって，熱電対，サーミスター，感温抵抗，赤外線センサーを使いわけております．一番破損しやすいのは，Ｍ３（旧 １ｕ）の下部にある小さなサーミスターです． […]
2019-05-04 / 最終更新日時 : 2020-07-29 hashimoto Q&A マニュアル測定がうまくできない マニュアル（ベースライン取得も含め）がうまく行かない理由はいくつかあります．まず以下の点をチェックしてください． １．指定点数が少なすぎる デフォルトでは５次関数近似ですから最低でも６点の測定が必要です．２．計測時定 […]
